一、操作步驟
　　1．紅外光譜儀開機(jī)前準(zhǔn)備：開機(jī)前檢查實(shí)驗(yàn)室電源、溫度和濕度等環(huán)境條件，當(dāng)電壓穩(wěn)定，室溫為21±5℃左右，濕度≤65％才能開機(jī)。
　　2．開機(jī)：開機(jī)時，首先打開儀器電源，穩(wěn)定半小時，使得儀器能量達(dá)到*狀態(tài)。開啟電腦，并打開儀器操作平臺軟件，運(yùn)行菜單，檢查儀器穩(wěn)定性。
　　3．制樣：根據(jù)樣品特性以及狀態(tài)，制定相應(yīng)的制樣方法并制樣。
　　4．掃描和輸出紅外光譜圖：測試紅外光譜圖時，先掃描空光路背景信號，再掃描樣品文件信號，經(jīng)傅立葉變換得到樣品紅外光譜圖。
　　5．關(guān)機(jī)
　　（1）關(guān)機(jī)時，先關(guān)閉軟件，再關(guān)閉儀器電源，zui后關(guān)閉計(jì)算機(jī)并蓋上儀器防塵罩。
　　（2）在記錄本記錄使用情況。
　　二、紅外光譜儀操作注意事項(xiàng)
　　1．測定時實(shí)驗(yàn)室的溫度應(yīng)在15～30℃，所用的電源應(yīng)配備有穩(wěn)壓裝置。
　　2．為防止儀器受潮而影響使用壽命，紅外實(shí)驗(yàn)室應(yīng)保持干燥。
　　3．樣品的研磨要在紅外燈下進(jìn)行，防止樣品吸水。
　　4．壓片用的模具用后應(yīng)立即把各部分擦干凈，必要時用水清洗干凈并擦干，置干燥器中保存，以免銹蝕。
　　5．采樣器使用須注意幾點(diǎn)：
　　（1）樣品與Ge晶體間必須緊密接觸，不留縫隙。否則紅外光射到空氣層就發(fā)生衰減全反射，不進(jìn)入樣品層。
　　（2）對于熱、燙、冰冷、強(qiáng)腐蝕性的樣品不能直接置于晶體上進(jìn)行測定，以免Ge晶體裂痕和腐蝕。
　　（3）尖、硬且表面粗糙的樣品不適合用OMNI采樣器采樣，因?yàn)檫@些樣品極易刮傷晶片，甚至使其碎裂。